I-V测试解决方案助您了解I-V特性分析中常见的测量

如果您正在研发未来的材料或器件,需要进行I-V供电及测量,比如晶体管测量、太阳能电池、充电电池测量、低电阻测量等研究,我们将为您的I-V测量,提供全面的应用解决方案,向您展示实现这些研究所需的最新创新技术。

I-V测试解决方案合集内容,内容包括:

如何对充电电池进行特性分析?

如何进行太阳能电池I-V特性分析?

如何进行晶体管I-V特性分析?

如何使用大电流进行低阻测量?

充电电池自发循环

充电电池或二次电池是笔记本电脑、视频游戏控制器、移动电话、数码相机和程控设备等电子设备中常见的,用来取代一次电池。为了改进或取代现有电池技术,研究人员正在研究延长充电电池寿命以及降低充电电池成本的方法。

通常使用放电和充电 (Galvanic) 循环对充电电池进行特性分析。循环测试提供有关电池内部化学、容量、可用周期数和寿命等信息。在生产测试中,经常进行放电 / 充电周期测试,以验证电池规格,确保其没有缺陷。

使用大电流进行低阻测量

测量低电阻有助于识别可能随时间变化的电阻要素,以及它们是否增加超过接收的阻值。通常,开始时在测量低电阻,然后稍后再测量电阻,以确定环境、热量、疲劳、腐蚀、振动或可能发生的其他条件变化是否影响器件或材料降级是否影响。

利用大电流测量低电阻 (<100W ) 时,首先施加电流 (I),然后测量作为结果的电压 (VM)。源测量单元 (SMU) 等仪器能够自动计算电阻。测得的未知电阻之间的电压取决于供应的电流量和电阻值。低阻测量容易受到引入误差源,包括引线电阻、热电压和器件自热。

文章来源北京凡实测控技术快3平台    文章链接:http://www。beijingfanshi。com/IVCSJJFAWZ


2018年12月24日

泰克TDS3054C数字荧光示波器产品技术资料
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